叶面积仪、叶面积测定仪、叶面积测量仪

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叶面积测定仪研究早熟梨树叶面积回归方程

来源: http://www.plant17.net/  更新时间:2014-12-22 14:08:11  阅读
  叶片是梨树的重要组成部分,叶面积数据是梨树密植实验、修剪反应和肥料实验中的重要参考依据。叶面积测定仪作为主要的叶面积检测仪器,具有操作简单、测量快速和叶片损伤小的特点,逐渐受到人们的重视。人们通过叶面积仪研究早熟梨树品种,寻找最佳叶面积测量方法,以期找出最佳梨树叶面积回归方程,为梨树叶面积测量提供一种科学有效的叶面积测算方法。
  不同品种的叶片长)叶片宽及叶面积的实际测定数值为11、12年]3个取样地点,共计1000片叶的平均值,由叶面积测定仪看出,不同的早熟梨品种其叶片的相关参数的样本实测平均值各不相同。鄂梨3号的叶面积最小,可能其亲本有西洋梨(母本为伏梨),从而遗传了西洋梨的特性(不同品种的叶片长)叶片宽变化差异较大,早酥的叶片宽实测值最小,华梨2号的叶片最长。
  由叶面积测定仪可以看出,不同品种叶片宽、叶片长、叶片宽与叶面积的二元回归方程复相关系数各不相同,经过显著性检测,各品种二元回归方程的复相关系数均达到极显著水平。鄂梨2号、鄂梨3号、华梨4号、西子绿及翠冠品种用叶片长、叶片长*叶片宽与叶面积的二元回归方程计算出的平均叶面积与实测叶面积的差值为负值,表明回归方程计算的叶片间平均值要小于实际测定值。
  本次叶面积测定仪测量实验共分析7个不同品种梨树叶面积数据,通过对数据分析获得早熟隶属的叶面积回归方程数据。为以后叶面积测定仪快速测量不同梨树品质叶面积提供帮助。
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